ZEISS Axiovert 7 倒置顯微鏡

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

ZEISS Axiovert 7 倒置顯微鏡是蔡司為 材料科學(xué)、質(zhì)量控制與科研 打造的顯微鏡。
相比 Axiovert 5，Axiovert 7 提供了更多 自動(dòng)化控制、編碼部件和電動(dòng)掃描臺(tái)，在保證高圖像質(zhì)量的同時(shí)，提升了重復(fù)性和效率，特別適合 大樣本檢測(cè)、高通量實(shí)驗(yàn)和長(zhǎng)時(shí)間研究。

核心優(yōu)勢(shì)

• 高精度電動(dòng)掃描臺(tái)：130 × 85 mm 驅(qū)動(dòng)平臺(tái)，配合線性編碼器，分辨率可達(dá) 0.1 µm，重復(fù)性 ±1 µm。

• 自動(dòng)化與可重復(fù)性：編碼物鏡、反射器、照明模式自動(dòng)記錄與恢復(fù)，減少人為誤差。

• 多種對(duì)比方式：支持明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光、C-DIC、DIC、iHMC 等。

• 快速成像與獨(dú)立存儲(chǔ)：無(wú)需電腦即可將圖像保存至 USB，支持顯示器連接。

• 大樣本兼容性：樣本臺(tái)面積大，適合金屬、合金、復(fù)合材料等材料檢測(cè)。

技術(shù)規(guī)格

應(yīng)用領(lǐng)域

• 材料科學(xué)：金屬、薄膜、復(fù)合材料等結(jié)構(gòu)分析與對(duì)比。

• 質(zhì)量控制：生產(chǎn)線上快速檢查焊點(diǎn)、夾雜物、裂紋等。

• 科研實(shí)驗(yàn)：晶粒分析、表面形貌、顆粒檢測(cè)等。

• 教學(xué)與展示：USB 存儲(chǔ) + 顯示器接口，適合課堂和培訓(xùn)演示。

選購(gòu)建議

• 高通量材料實(shí)驗(yàn)室：優(yōu)先選擇帶電動(dòng)掃描臺(tái)的版本，提高重復(fù)性與效率。

• 科研用戶：關(guān)注是否需要 C-DIC、偏光等對(duì)比模塊。

• 教學(xué)場(chǎng)景：獨(dú)立存儲(chǔ)和 Snap 快照功能，方便快速展示。

• 預(yù)算分析：Axiovert 5 提供更基礎(chǔ)的功能，Axiovert 7 更適合對(duì)自動(dòng)化和精度有高需求的用戶。